Method and device for measuring a surface contour eg. roughness,申请号GB19890021194-传众专利搜索

发明名称	Method and device for measuring a surface contour eg. roughness
摘要
申请公布号	GB2222886(A)	申请公布日期	1990.03.21
申请号	GB19890021194	申请日期	1989.09.19
申请人	* TOKYO SEIMITSU CO., LTD.	发明人	TORU * SUZUKI;MASATOSHI * ARAI
分类号	G01B21/20;G01B7/28;G01B11/30;G01B21/30	主分类号	G01B21/20
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利