发明名称 |
PARAMETER MEASUREMENT USING REFRACTIVE INDEX CHANGE |
摘要 |
L'appareil décrit comprend un récipient contenant une certaine quantité d'un matériau de référence dont on connaît la variation de l'indice de réfraction relative aux variations du paramètre considéré du matériau test (qui peut être la température, la pression ou autre); un guide d'ondes optiques allongé en contact avec le matériau de référence qui est lui-même en contact thermique avec le matériau test (dans le cas d'une mesure de la température) ou qui est soumis à la même pression que le matériau test (dans le cas d'une mesure de la pression); ainsi qu'un organe servant à mesurer la transmission de lumière passant le long du guide d'ondes optiques, ce qui permet d'obtenir une mesure qui dépend de la valeur du paramètre du matériau de référence et pour conséquent du matériau test. |
申请公布号 |
WO9002322(A1) |
申请公布日期 |
1990.03.08 |
申请号 |
WO1989GB01012 |
申请日期 |
1989.08.31 |
申请人 |
RED KITE TECHNOLOGY LIMITED |
发明人 |
DAVIES, CHRISTOPHER;CLEMENT, ROBERT, MARC |
分类号 |
G01D5/26;G01K11/00;G01L11/02;G01N21/43;(IPC1-7):G01K11/00;G01N21/41;G01L11/00 |
主分类号 |
G01D5/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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