| 发明名称 |
DYNAMIC TEST METHOD FOR S/H CIRCUIT AND A/D CONVERTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0260230(A) |
申请公布日期 |
1990.02.28 |
| 申请号 |
JP19880210479 |
申请日期 |
1988.08.26 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
SHINAGAWA MITSURU;AKAZAWA YUKIO |
| 分类号 |
G01R31/28;H03M1/10;H03M1/12 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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