发明名称 METHOD FOR DESIGNING TEST FACILITATING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0259967(A) 申请公布日期 1990.02.28
申请号 JP19880213109 申请日期 1988.08.26
申请人 NEC CORP 发明人 HARADA EIJI
分类号 G06F11/26;G06F17/50;H03K19/00 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人
主权项
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