Semiconductor integrated circuit having a DC test function,申请号US19880278503-传众专利搜索

发明名称	Semiconductor integrated circuit having a DC test function
摘要
申请公布号	US4904883(A)	申请公布日期	1990.02.27
申请号	US19880278503	申请日期	1988.12.01
申请人	FUJITSU LIMITED;FUJITSU MICROCOMPUTER SYSTEMS LIMITED	发明人	IINO, HIDEYUKI;HIDA, HIDENORI
分类号	H01L21/66;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/317;H01L21/822;H01L27/04	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
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