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经营范围
发明名称
LSI TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH0257990(A)
申请公布日期
1990.02.27
申请号
JP19880208451
申请日期
1988.08.24
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
ISHINO SADAMASA
分类号
G01R31/317;G01R31/28;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04
主分类号
G01R31/317
代理机构
代理人
主权项
地址
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