发明名称 TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0255972(A) 申请公布日期 1990.02.26
申请号 JP19880207682 申请日期 1988.08.22
申请人 SEIKO EPSON CORP 发明人 YAMADA ICHIRO
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址