发明名称 DISPOSITIF DE TEST STRUCTUREL D'UN CIRCUIT INTEGRE
摘要
申请公布号 FR2622019(B1) 申请公布日期 1990.02.09
申请号 FR19870014344 申请日期 1987.10.19
申请人 THOMSON SEMICONDUCTEURS 发明人 JACEK ANTONI KOWALSKI
分类号 G06F11/22;G01R31/28;G11C29/12;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28;G06K19/00 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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