发明名称 TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0238875(A) 申请公布日期 1990.02.08
申请号 JP19880190453 申请日期 1988.07.28
申请人 NEC CORP 发明人 IMAMURA HIROHISA
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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