| 发明名称 |
TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0236546(A) |
申请公布日期 |
1990.02.06 |
| 申请号 |
JP19880185596 |
申请日期 |
1988.07.27 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
MATSUI KIYOSHI;TAKADA MASANORI;WATANABE KATSUMI;ANDO KENJI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;H01L21/66;H01L27/10 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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