发明名称 Process for illuminating an object in a transmission electron microscope and electron microscope suitable for that process.
摘要 Zum Beleuchten eines Objektes in einem Transmissions-Elektronenmikroskop werden zwei Kondensorlinsen (13a, 13b) derart verwendet, daß sie ein Bild der Elektronenquelle mit unterschiedlicher Verkleinerung abbilden. Dieser Crossover (11c) wird im TEM-Betrieb durch eine dritte Kondensorlinse (14) in die Brennebene (17b) einer KOE-Vorfeldlinse (17v) abgebildet, wodurch mit seiner Größe die Beleuchtungsapertur eingestellt werden kann. Vor der KOE-Linse (17) wird der Elektronenstrahl durch zwei in unterschiedlichen Ebenen angeordnete Blenden (35, 39; 35, 45; 95, 99) und durch mindestens ein Ablenksystem (16) so beschnitten, daß die Größe des Beleuchtungsfeldes auf dem Objekt (18) nur wenig größer ist als der vom Elektronenmikroskop vergrößerte Bereich. Größe des Beleuchtungsfeldes und Beleuchtungsapertur sind unabhängig voneinander einstellbar.
申请公布号 EP0352552(A2) 申请公布日期 1990.01.31
申请号 EP19890112801 申请日期 1989.07.13
申请人 FIRMA CARL ZEISS 发明人 BENNER,GERD DR.
分类号 H01J37/04;H01J37/09;H01J37/147;H01J37/22;H01J37/26 主分类号 H01J37/04
代理机构 代理人
主权项
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