发明名称 一种金属氧化物半导体场效应晶体管
摘要 一种金属氧化物半导体场效应晶体管,它由第一导电类型的衬底、第二导电类型的源、漏区、栅氧化层和栅极构成。衬底为N型<100>硅,源、漏区由离子注入掺杂P型硅或掺杂N型硅组成。栅氧化层采用掺氟氧化工艺,在800℃或更低温度下氧化和氟处理形成,其界面为单个原子层平整,点电荷数在1×10<SUP>10</SUP>/厘米<SUP>2</SUP>量级范围中,从而满足了沟道载流子散射少,电流波动小以及浅结、短沟道要求。是一种高速、低噪声晶体管。
申请公布号 CN1039153A 申请公布日期 1990.01.24
申请号 CN88105537.9 申请日期 1988.06.27
申请人 中国科学院上海冶金研究所 发明人 龙伟;徐元森
分类号 H01L29/784 主分类号 H01L29/784
代理机构 中国科学院上海专利事务所 代理人 沈德新
主权项 1、一种金属氧化物半导体场效应晶体管,包括一个第一导电类型的衬底、一个第二导电类型的源区、一个第二导电类型的漏区、一个栅氧化层以及栅极。衬底为元素半导体硅,源、漏区由离子注入掺杂P型硅或掺杂N型硅组成,其特征在于栅氧化层和硅之间的界面为单原子级平整,界面电荷数在1×1010/厘米2量级范围,沟道区域的载流子有效迁移率比常规MOSFET提高70-100%。
地址 上海市长宁区长宁路865号