发明名称 | 一种金属氧化物半导体场效应晶体管 | ||
摘要 | 一种金属氧化物半导体场效应晶体管,它由第一导电类型的衬底、第二导电类型的源、漏区、栅氧化层和栅极构成。衬底为N型<100>硅,源、漏区由离子注入掺杂P型硅或掺杂N型硅组成。栅氧化层采用掺氟氧化工艺,在800℃或更低温度下氧化和氟处理形成,其界面为单个原子层平整,点电荷数在1×10<SUP>10</SUP>/厘米<SUP>2</SUP>量级范围中,从而满足了沟道载流子散射少,电流波动小以及浅结、短沟道要求。是一种高速、低噪声晶体管。 | ||
申请公布号 | CN1039153A | 申请公布日期 | 1990.01.24 |
申请号 | CN88105537.9 | 申请日期 | 1988.06.27 |
申请人 | 中国科学院上海冶金研究所 | 发明人 | 龙伟;徐元森 |
分类号 | H01L29/784 | 主分类号 | H01L29/784 |
代理机构 | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人 | 沈德新 |
主权项 | 1、一种金属氧化物半导体场效应晶体管,包括一个第一导电类型的衬底、一个第二导电类型的源区、一个第二导电类型的漏区、一个栅氧化层以及栅极。衬底为元素半导体硅,源、漏区由离子注入掺杂P型硅或掺杂N型硅组成,其特征在于栅氧化层和硅之间的界面为单原子级平整,界面电荷数在1×1010/厘米2量级范围,沟道区域的载流子有效迁移率比常规MOSFET提高70-100%。 | ||
地址 | 上海市长宁区长宁路865号 |