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Bei einer derartigen Positionsmeßeinrichtung zur Messung der Relativlage zweier Objekte wird die Teilung (T) eines mit dem einen Objekt verbundenen Teilungsträgers (TT) von einer mit dem anderen Objekt verbundenen Abtasteinrichtung (A) abgetastet. Die Abtasteinrichtung (A) weist für eine Einfeldabtastung drei Lichtquellen (L1 - L3) mit einem gegenseitigen Abstand (b) in Meßrichtung (X), einen Kondensor (K), eine Abtastteilung (AT) sowie ein Photoelement (P) auf. Die drei periodischen Versorgungsspannungen (VS1 - VS3) jeweils benachbarter Lichtquellen (L1 - L3) besitzen einen gegenseitigen Phasenversatz von 120° und die aus dem Kondensor (K) austretenden benachbarten Lichtstrahlenbündel (LB1 - LB3) schließen einen Winkel (α) miteinander ein. Während zwischen der Abtastteilung (AT) und der Teilung (T) ein relativ großer Abstand (a) besteht, ist der Abstand (c) zwischen der Abtasteinrichtung (A) und dem Teilungsträger (TT) wesentlich geringer. Der Winkel (α) und der Abstand (a) werden so vorgegeben, daß die benachbarten Lichtstrahlenbündel (LB1 - LB3) auf der Teilung (T) mit der Teilungsperiode (C) einen gegenseitigen Versatz V = C/3 aufweisen. Das vom Photoelement (P) erzeugte periodische Abtastsignal (S) wird gemeinsam mit einer Versorgungsspannung (VS1) einem Phasenvergleicher (PV) zur Erzeugung von Meßwerten (MW) zugeführt. Die vorgeschlagene Meßeinrichtung ist unempfindlich gegenüber Verunreinigungen.
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