发明名称 SCANNING STAGE FOR SYSTEM OF AUTOMATIC CHECK OF PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR PLATES
摘要
申请公布号 SU1536344(A1) 申请公布日期 1990.01.15
申请号 SU19874283484 申请日期 1987.05.26
申请人 SEDOV ANATOLIJ N,SU 发明人 SEDOV ANATOLIJ N,SU
分类号 G02B26/10 主分类号 G02B26/10
代理机构 代理人
主权项
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