SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER,申请号JP19880160259-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号	JPH028751(A)	申请公布日期	1990.01.12
申请号	JP19880160259	申请日期	1988.06.27
申请人	SUMITOMO ELECTRIC IND LTD	发明人	SUMINO YUTAKA
分类号	G01R31/26;G01R1/073;H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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