Verfahren zur Ermittlung der gegenseitigen Phasenlage von zwei elektrischen Grössen mittels ihrer Überlappungszeit,申请号CH19610015050-传众专利搜索

发明名称	Verfahren zur Ermittlung der gegenseitigen Phasenlage von zwei elektrischen Grössen mittels ihrer Überlappungszeit
摘要
申请公布号	CH402134(A)	申请公布日期	1965.11.15
申请号	CH19610015050	申请日期	1961.12.28
申请人	SIEMENS & HALSKE AKTIENGESELLSCHAFT	发明人	BORN,ECKHARD,DIPL.-PHYS.
分类号	H02H3/38	主分类号	H02H3/38
代理机构		代理人
主权项
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