IC TESTING APPARATUS,申请号JP19880146806-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	IC TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号	JPH022955(A)	申请公布日期	1990.01.08
申请号	JP19880146806	申请日期	1988.06.16
申请人	HITACHI ELECTRON ENG CO LTD	发明人	KONO HIROYUKI;TOSA TERUO
分类号	G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
地址

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