发明名称 PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN DISPOSITIF DE MESURE OPERANT SANS CONTACT, NOTAMMENT POUR LE CONTROLE DE PRODUITS LAMINES ET DISPOSITIF POUR LA MISE EN OEUVRE DU PROCEDE
摘要 <P>a) Procédé d'étalonnage d'un dispositif de mesure opérant sans contact, notamment pour le contrôle de produits laminés et dispositif pour la mise en oeuvre du procédé.</P><P>b) Procédé caractérisé en ce qu'il est continuellement tenu à disposition à proximité du point de mesure du dispositif de mesure un corps étalon 14 dont les dimensions de la section sont exactement connues, au moins une tête de mesure 8 dans un boîtier entourant le produit qui passe, et en ce qu'il est disposé, sur ou à proximité du boîtier 11, un corps-étalon 14 qui peut être, à la demande, placé provisoirement dans la zone du faisceau de rayons de mesure 9 de la tête de mesure 8.</P><P>c) L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un dispositif de mesure opérant sans contact, notamment pour le contrôle de produits laminés et dispositif pour la mise en oeuvre du procédé.</P>
申请公布号 FR2633388(A1) 申请公布日期 1989.12.29
申请号 FR19890004273 申请日期 1989.03.31
申请人 BINDERNAGEL ALI 发明人
分类号 G01D18/00;G01B11/04;G01B11/10 主分类号 G01D18/00
代理机构 代理人
主权项
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