首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Wafer inspection system
摘要
申请公布号 GB2220100(A) 申请公布日期 1989.12.28
申请号 GB19890012064 申请日期 1989.05.25
申请人 * GALAI LABORATORIES LTD 发明人 NIR * KARASIKOV;YOEL * ILSAR
分类号 G01N21/84;G01R31/265;G01R31/28;G01R31/311;H01L21/66 主分类号 G01N21/84
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com