发明名称 在硅衬底上形成隔离硅区和场效应器件的工艺过程
摘要 在一个类似延层的硅层中形成MOS和CMOS晶体管的改进的工艺过程。先形成一些场氧化物区,接着再沉积一层多晶硅层或非晶硅层,这些硅层在这些场氧化物区之间形成“晶种窗”处同衬底接触。这硅层由衬底通过晶种窗重新结晶,晶体管就造在这层重新结晶过的硅层中。
申请公布号 CN1006261B 申请公布日期 1989.12.27
申请号 CN85104551.0 申请日期 1985.06.14
申请人 英特尔公司 发明人 贝格;赵·H·挺;华泰礼
分类号 H01L21/76;H01L21/02;H01L21/94;H01L27/04 主分类号 H01L21/76
代理机构 中国专利代理有限公司 代理人 李先春
主权项 1.在一片硅衬底上制造场效应器件的过程中,利用一些绝缘区把所述器件彼此隔离开来,改进的工艺过程的特征在于包括下列步骤:在所述衬底上形成一绝缘层;在所述绝缘层上形成掩膜部分;在所述绝缘层未加掩膜的各部分形成绝缘区,其中所述各绝缘区延伸入衬底中,从而界定了所述各绝缘区之间的窗口;蚀刻所述绝缘层和各绝缘区,使所述衬底在所述各窗口处暴露出来,在所述各绝缘区和各窗口上面形成一硅层;对所述硅层进行处理,促使所述硅层再结晶,所述再结晶过程是在所述衬底上生长出结晶,通过所述各窗口延伸入所述硅层中,再横向延伸入置于所述各绝缘区上方的所述硅层中;形成一栅极,其中所述栅极置于形成漏区和源区的所述各绝缘区上方;于是所述各绝缘区就把源区和漏区与所述衬底隔离开来。
地址 美国加利福尼亚州