发明名称 APPARATUS FOR TESTING OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR890005216(B1) 申请公布日期 1989.12.18
申请号 KR19870005407 申请日期 1987.05.29
申请人 DS KOREA CO. 发明人 TILER, ARTHUR W.
分类号 H01L21/64;(IPC1-7):H01L21/64 主分类号 H01L21/64
代理机构 代理人
主权项
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