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发明名称 TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT
摘要
申请公布号 JPH01305373(A) 申请公布日期 1989.12.08
申请号 JP19880136895 申请日期 1988.06.03
申请人 NIPPON INTER ELECTRONICS CORP 发明人 YONEYAMA TAKASHI
分类号 G01R31/26;G01R31/00;G01R31/30 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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