SHORT-CIRCUIT TESTING DEVICE,申请号JP19880117888-传众专利搜索

发明名称	SHORT-CIRCUIT TESTING DEVICE
摘要
申请公布号	JPH01287477(A)	申请公布日期	1989.11.20
申请号	JP19880117888	申请日期	1988.05.13
申请人	MITSUBISHI CABLE IND LTD	发明人	IMAI KEISUKE
分类号	G01R31/06;H01L39/00	主分类号	G01R31/06
代理机构		代理人
主权项
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