IC TESTING JIG,申请号JP19880116615-传众专利搜索

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发明名称	IC TESTING JIG
摘要
申请公布号	JPH01285874(A)	申请公布日期	1989.11.16
申请号	JP19880116615	申请日期	1988.05.13
申请人	NEC CORP	发明人	TAKANO SEIJI
分类号	G01R31/26;G01R1/073;G01R31/30	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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