发明名称 METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF METALLIC LAYER
摘要
申请公布号 JPH01277709(A) 申请公布日期 1989.11.08
申请号 JP19880106804 申请日期 1988.04.28
申请人 SUMITOMO METAL IND LTD;NARUMI CHINA CORP 发明人 MATSUMOTO YOSHIRO;INADA KIYOTAKA;NAKAMURA TAKAO;FURUKAWA YUTA
分类号 G01B15/02 主分类号 G01B15/02
代理机构 代理人
主权项
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