发明名称 Process for depositing conformal layers of tungsten onto semi-conductor substrates, for the production of integrated circuits.
摘要 Bei einem Verfahren zum konformen Abscheiden von Wolfram auf Halbleitersubstrate aus flüchtigen Wolframhalogenphosphanverbindungen, insbesondere beim Auffüllen von Kontaktlöchern in Isolationsschichten, wird die aus Wolfram bestehende ganzflächig auf dem Halbleitersubstrat abgeschiedene Metallschicht dadurch erzeugt, daß die festen Trihalogenphosphan-Wolframkomplexverbindungen bei Temperaturen unter 200°C verdampft und entweder thermisch bei Temperaturen unter 450°C, oder durch Plasmaaktivierung oder laserinduziert zersetzt werden. Als Komplexe werden verwendet W(PF3)6, W(PCl3)6, W(PF3)5L wie zum Beispiel W(PF3)5N2, W(PF3)4(η<4>-L) wie zum Beispiel W(PF3)4-1.5 Cyclooctadien oder W(PF3)3(η<6>-L) wie zum Beispiel W(PF3)3 C6H6. Das Verfahren erlaubt Kontaktlöcher, auch via holes, mit hohem Aspektverhältnis lunkerfrei mit Wolfram zu füllen und wird verwendet zur Herstellung von Mehrlagenverdrahtungen von höchstintegrierten Halbleiterschaltungen.
申请公布号 EP0338206(A1) 申请公布日期 1989.10.25
申请号 EP19890102913 申请日期 1989.02.20
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 HIEBER, KONRAD, DR.;VON TOMKEWITSCH, JASPER;TREICHEL, HELMUTH;KRUCK, THOMAS;SPINDLER, OSWALD, DR.
分类号 C23C16/14;C23C16/06;H01L21/28;H01L21/285;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/52 主分类号 C23C16/14
代理机构 代理人
主权项
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