发明名称 COOLING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH01267472(A) 申请公布日期 1989.10.25
申请号 JP19880097253 申请日期 1988.04.19
申请人 NEC KYUSHU LTD 发明人 TAKASHIGE YOSHIFUMI
分类号 G01R31/26;H01L21/66;H01L23/46;H01L23/467 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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