发明名称 METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF PATTERNS IN MICROELECTRONIC DEVICES
摘要
申请公布号 EP0230285(A3) 申请公布日期 1989.10.25
申请号 EP19870100518 申请日期 1987.01.16
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOYODA JIDOSHOKKI SEISAKUSHO;HATTORI, SHUZO 发明人 YOSHIDA, AKIHIRO KK TOYODA JIDOSHI SEISAKUSHO;IIDA, TAKAHIDE KK TOYODA JIDOSHI SEISAKUSHO;MIYAKE, HIROSHI KK TOYODA JIDOSHI SEISAKUSHO;HATTORI, SHUZO
分类号 G01N21/956;(IPC1-7):G01N21/88;G01N23/04;G06F15/70;H01L21/66 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利