| 发明名称 |
Method and apparatus for testing EPROM type semiconductor devices during burn-in |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US4871963(A) |
申请公布日期 |
1989.10.03 |
| 申请号 |
US19880258962 |
申请日期 |
1988.10.17 |
| 申请人 |
SGS MICROELETTRONICA S.P.A. |
发明人 |
COZZI, LUCIO |
| 分类号 |
H01L27/10;G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G11C29/00;G11C29/06;G11C29/50;H01L21/66;H01L21/8247;H01L29/788;H01L29/792 |
主分类号 |
H01L27/10 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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