PROCEDE ET SYSTEME D'ETALONNAGE D'UN SCANNER A RAYONS X EN UTILISANT UN SEUL ETALON NON CIRCULAIRE

摘要

L'invention concerne les scanners à rayons X et plus particulièrement un procédé d'étalonnage de tels appareils.

L'invention réside dans le fait que l'on utilise un seul étalon 32 de forme elliptique par exemple, et que l'on effectue des mesures d'atténuation pour plusieurs positions angulaires principales du scanner 30, 31 autour de l'étalon 32. En outre, on effectue plusieurs mesures ou vues de part et d'autre de cette position principale pour calculer une atténuation moyenne par canal. La courbe d'atténuation est ensuite lissée par filtrage et approximation polynomiale.

L'invention est applicable aux scanners à rayons X.