| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Auswertung der Bildinformation bei einer optischen Oberflächenkontrolle mittels eines elektronischen Abtastsystems, das eine Beseitigung störender Untergrundinformationen der auf Fehlstellen zu untersuchenden Oberfläche ermöglicht. Um eine verbesserte Erkennbarkeit der Fehlstellen zu gewährleisten, werden die Bildpunktinformationen des Quellbildes (QB) zeilen- und/oder spaltenweise durch ein eindimensionales Filter (F) in einem vorgegebenen Takt geschoben, zur Bildung eines resultierenden Zielbildes (ZB), und ein erster Filterwert (EFWalt) des eindimensionalen Filters (F) wird in Abhängigkeit von einem anderen Filterwert (LFW) bei jedem Takt zu einem neuen ersten Filterwert (EFWneu) korrigiert. Die Erfindung ist bei optischen Verfahren zur Oberflächenkontrolle, beispielsweise von Blechteilen im Automobilbau, anwendbar. |
