发明名称 Distributed pseudo random sequence control with universal polynomial function generator for LSI/VLSI test systems
摘要 Simple polynomial function generators are used to generate pseudo random test patterns and perform signature analysis on a per pin basis in the control logic in LSI/VLSI test systems.
申请公布号 US4870346(A) 申请公布日期 1989.09.26
申请号 US19870096703 申请日期 1987.09.14
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 发明人 MYDILL, MARC R.;POWELL, THEO J.
分类号 G06F11/22;G01R31/28;G01R31/3181;G01R31/3183;G06F11/277 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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