发明名称 二氧化碲单晶体的生长技术
摘要 一种属于晶体生长技术的二氧化碲(TeO2)单晶体生长。其特征在于用坩埚下降法可生长多种切向和形状的单晶体。利用本技术可沿[100][001][110]方向并可沿其中任一方向生长方棒、椭圆形、菱形、板状及圆柱形晶体。所生长晶体可达(70~80)mm×(20~30)mm×100mm。本方法与一般提拉法比具有设备简单,不受提拉方向和切形限制,基本无污染等优点,而且晶体利用率可相应提高30~100%。
申请公布号 CN1005159B 申请公布日期 1989.09.13
申请号 CN85107803.6 申请日期 1985.10.09
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 蒲芝芬;葛增伟
分类号 C30B29/46;C30B11/04 主分类号 C30B29/46
代理机构 中国科学院上海专利事务所 代理人 潘振甦;聂淑仪
主权项 1.一种二氧化碲(Teo2)单晶的坩埚下降生长方法,其特征在于:(1)原料预烧;将光谱纯TtO2原料装入氧化铝瓷坩埚中,在坩埚下降炉内预处理,于700℃保温12~15小时,再快速冷却至常温;(2)准备籽晶切向和制作铂金坩埚;可选沿[110]、[001]、[100]、以及任一方向生长的籽晶;准备生长所需多种形状的铂金坩埚;(3)晶体的生长;A.装料:将所需切向的籽晶及预烧处理过的料装入所需形状的铂金坩埚内,密封;B.装炉:上述铂金坩埚装入陶瓷保护管内,其间空隙用耐火材料粉填实;C.升温:以每小时80-100℃速率升温至780-800℃;保温度1-4小时;D.生长晶体:按每小时0.2-0.8mm速率下降铂坩埚;下降结束后再以15-20℃/小时,降至低于100℃,切断电源,自然冷却。
地址 上海市长宁区长宁路865号