摘要 |
Bei einer bekannten Adaptereinrichtung ist aus nebeneinander liegenden und im rechten Winkel zur Oberfläche der zu prüfenden Leiterplatte angeordneten Leiterplatten gebildet. An ihrer Eingangsseite weist die bekannte Adaptereinrichtung Kontakte auf, die mittels Leiterbahnen mit Kontaktelementen auf der der Eingangsseite gegenüberliegenden Ausgangsseite verbunden sind. Die Adaptereinrichtung (30) enthält Adapter-Grundelemente (1) aus paarweise zusammengefügten Leiterplatten (2,3) mit jeweils einer einzigen Reihe von dem Prüfling zugewandten Kontakten (6), die bis zu Kontaktierung (11) von Durchgangslöchern (8) reichen. Unterhalb von jeweils zwei aufeinanderfolgenden Durchgangslöchern (8) ist jeweils ein weiteres Durchgangsloch (14) mit gegeneinander isolierter Kontaktierung (13,15) angeordnet, die über Leiterbahnen mit den Kontaktierungen (11) der einen Durchgangslöcher (8) verbunden sind. Kontaktelemente (19,20) reichen von außen bis zu den Kontaktierungen (13,15). Die Adaptereinrichtung ist aus den Adapter-Grundelementen entsprechend der Prüfpunkt-Anordnung auf der jeweils zu prüfenden Leiterplatte individuell zusammenstellbar.
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