发明名称 |
ANALOG TRANSMISSION CHARACTERISTIC MEASURING INSTRUMENT FOR SEMICONDUCTOR LASER CHIP |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH01219573(A) |
申请公布日期 |
1989.09.01 |
申请号 |
JP19880045027 |
申请日期 |
1988.02.26 |
申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
WAKABAYASHI SHINICHI;NEGISHI HIDEHIKO;KASAHARA MASAO |
分类号 |
G01R31/26;G01M11/00;H01L21/66;H01S5/00 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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