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发明名称 METHOD OF TESTING EPROM INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH01214037(A) 申请公布日期 1989.08.28
申请号 JP19880038851 申请日期 1988.02.22
申请人 NEC YAMAGATA LTD 发明人 HONMA AKIHIRO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;H01L21/66;H01L21/8247;H01L29/78;H01L29/788;H01L29/792 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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