| 主权项 |
1﹒一装置之自动测试程式之生成方法,其可用布耳状态方程式所描述而由下列步骤所形成为特征者:藉该布耳状态方程式描述(5.6.8)侦错方程式;决定(10)侦错布耳乘积,共将描述在何状态下,该侦错方程式方为真;利用删减方法导出(11.12.14.16、17)始动顺序,以满足该侦错布耳乘积之要求,该启始顺序之第一次转态因此可不受该装置之状态影响而得以继续进行;应用(18.20)启始顺序于该装置以测定该装置。2.申请专利范围第1项之步骤,再包括:预先处理(5)该装置之状态描述,以得到该布耳状态方程式者。3﹒申请专利范围第2项之方法中,该预先处理(5)之步骤,再包括:将笛摩根定理应用于该布耳状态方程式,以导出该布耳状态方程式之补数及求得最小逻辑真,及最小逻辑伪状态状方程式者。4﹒申请专利范围第2项之方法中,该预先处理(5)之步骤,再包括:将一致性应用于依据xy+xz=xy+xz+yz理论之布耳状态方程式以导出额外之布耳乘积,以确定如果需要但却无充分条件测试该装置者。5.申请专利范围第2项之方法,其预先处理(5)之上骤,再包括:导出布耳状态方程式,其说明该装置具非同步之特性,如记录器之设定、清除、计时及准许等者。6﹒申请专利范围第1项之方法,该预先处理(5)之多骤,再包括使该布耳状态方程式适应该装置之电路结构,俾当其应用于一电路时,该装置之输入即被固定于一预定状态者。7﹒申请范围第3项之方法,其中导出(10)该侦错方程式之步骤,再包括:自该最小逻辑真,及该最小逻辑伪装置之状态方程式中送择一主要布耳乘积;形成该装置状态方程式之所有布耳乘积,以作为第二布耳乘积,其与主要布耳乘积不同;应用苗摩根定理于该第二布耳乘积,使产生一方程式以表示该第二布耳乘积为逻辑伪;使该一方程式成最小値以获得最低値之第二布耳乘积者。8﹒申讲专利范围第3项之方法,该导出(10)始动顺序之步骤,再包括:依据后续状态之最小逻辑真及最小逻辑伪状态方程式,宵施布耳AND连作,以产生前置状态而求得一前置布耳方程式,该方程式则符合后续状态之输出条件;从该前置布耳式中除去多余项者。9.申请专利范围第8项之方法中,其除去多余项之步骤,再包括:自该前置布耳方程式中除去相当于且又被后续状态布耳方程式之输出条件所涵盖之输出条件者。10﹒申请专利范围第9项之方法,其步骤,再包括:使用xy+/xz=xy+/xz+yz之理论,而将一致性应用于该前置有布耳方程式以求得一扩展之前置布耳方程式者。11﹒申请专利范围第7项之方法,其中决定该侦错布耳乘积描述该侦错方程式为真之上骤,再包括:从该主要布耳乘积中导出主要乘积向量;以该最小第二布耳乘积作为第二乘积向量;使该主要乘积向量与该第二乘积向量相交,以得到一组侦错向量以描述该侦错方程式为真之状态者。12﹒申讲专利范围第11项之方法,其步骤再包括:应用一致性于该组侦错向量之输出条件,以导出额外之侦错向量者。13﹒申讲专利范围第12项之方法中,其中导出该启始顺序(11.12.14.16.17) 之上骤,包括.由下列步骤依序决定前置状态(12);从该组额外之侦错向量中选择一预定侦错向量以导出一启始顺序;然后决定该预定侦错向量之输出条件;依据后续状态之最小逻辑真及最小逻辑伪状态方程式进行在耳AND运作,以求得一组前置状态节点;除去多余之前置状态节点以使该前置状态节点减低至最小程度;基于xy+/yz=xy+/xz+yz之理论,应用一致性之方法求得一扩展之前置状态节点;使用下列删灭方法,除去该前置状态之节点;除去自该预定侦错向量导出之多余输出条件之节点,以得到一更加减少之前置状态节点;基于x+xy=x之理论,针对所涵盖之输出条件,进一步灭少该已灭少之前置状态节点,以得到一更加灭少之前置状态节点;除去从任何其他侦错向量所导出之节点,由于无启始顺序存在,因此可减少该已进一步灭少之前置状态节点;继续依序决定该前置状态及消除该前置状态节点之程序,以获得该启始顺序者。图示简单说明:图1系本发明测试方法之流程图。图2系具有一输入端,二输出端及一时钟之典型逻辑器概略图。图3系普通状态之概酪图,说明介于后级状态与前置状态(N2,N3为前置状态N1之后续状态)两者间之关系。图4系侦错向置(e,1,1)之状态,并说明末有始动顺序存在之完整状态。图5系侦错向量(e,0,0)之状态,并说明用以导出侦错向量(e,,0,0)之始动顺序之使用或状态。图6系j一k正反器之坎诺图,说明简化及一致之概念。 |
