CIRCUIT TESTING DEVICE,申请号JP19880031753-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	CIRCUIT TESTING DEVICE
摘要
申请公布号	JPH01207670(A)	申请公布日期	1989.08.21
申请号	JP19880031753	申请日期	1988.02.16
申请人	MITSUBISHI KASEI CORP	发明人	YOSHIDA TOSHIYUKI
分类号	G01R19/165;G01R31/00	主分类号	G01R19/165
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利