发明名称 微型单象坐标量测装置
摘要 本实用新型公开了一种微型单象坐标量测装置。它主要由光学显微成象系统;X、Y方向精密位移及测微系统所组成。将底片放置于承片框上,通过光学系统放大投影成象在测标光屏上,然后通过转动X、Y方向测微手轮使得测标与象点重合,即可分别读出X、Y坐标值。本实用新型体积小,成本低,精度高,特别适用于近景摄影测量中单象坐标的象点量测。
申请公布号 CN2042975U 申请公布日期 1989.08.16
申请号 CN88220687.7 申请日期 1988.12.01
申请人 武汉测绘科技大学 发明人 潘卫平;吴土金
分类号 G03B27/53 主分类号 G03B27/53
代理机构 武汉测绘科技大学专利事务所 代理人 周允昌
主权项 1、一种单象坐标量测装置,其特征在于由单筒光学显微成象系统;X、Y方向机械测微系统组成。
地址 湖北省武汉市武昌珞喻路39号