发明名称 | 微型单象坐标量测装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种微型单象坐标量测装置。它主要由光学显微成象系统;X、Y方向精密位移及测微系统所组成。将底片放置于承片框上,通过光学系统放大投影成象在测标光屏上,然后通过转动X、Y方向测微手轮使得测标与象点重合,即可分别读出X、Y坐标值。本实用新型体积小,成本低,精度高,特别适用于近景摄影测量中单象坐标的象点量测。 | ||
申请公布号 | CN2042975U | 申请公布日期 | 1989.08.16 |
申请号 | CN88220687.7 | 申请日期 | 1988.12.01 |
申请人 | 武汉测绘科技大学 | 发明人 | 潘卫平;吴土金 |
分类号 | G03B27/53 | 主分类号 | G03B27/53 |
代理机构 | 武汉测绘科技大学专利事务所 | 代理人 | 周允昌 |
主权项 | 1、一种单象坐标量测装置,其特征在于由单筒光学显微成象系统;X、Y方向机械测微系统组成。 | ||
地址 | 湖北省武汉市武昌珞喻路39号 |