SECONDARY ION MASS SPECTROMETER,申请号JP19880027475-传众专利搜索

发明名称	SECONDARY ION MASS SPECTROMETER
摘要
申请公布号	JPH01204349(A)	申请公布日期	1989.08.16
申请号	JP19880027475	申请日期	1988.02.10
申请人	NEC CORP	发明人	KAMESHIMA YASUBUMI
分类号	H01J49/06;H01J49/14;H01J49/26	主分类号	H01J49/06
代理机构		代理人
主权项
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