JITTER TESTING METHOD FOR SAMPLE AND HOLD CIRCUIT,申请号JP19880023980-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	JITTER TESTING METHOD FOR SAMPLE AND HOLD CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH01201899(A)	申请公布日期	1989.08.14
申请号	JP19880023980	申请日期	1988.02.05
申请人	NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT>	发明人	SHINAGAWA MITSURU;AKAZAWA YUKIO
分类号	G11C27/02	主分类号	G11C27/02
代理机构		代理人
主权项
地址

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