METHOD AND ARRANGEMENT FOR DETERMINING THE WEAK POINTS WITHIN AN ELECTRICAL INTEGRATED CIRCUIT,申请号EP19850110469-传众专利搜索

发明名称	METHOD AND ARRANGEMENT FOR DETERMINING THE WEAK POINTS WITHIN AN ELECTRICAL INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号	EP0177722(B1)	申请公布日期	1989.08.09
申请号	EP19850110469	申请日期	1985.08.20
申请人	SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN	发明人	SCHMID, RALF;OTTO, JOHANN, DIPL.-ING.;KNAPEK, ERWIN, DR. DIPL.-PHYS.;BERNKLAU, DANIELA
分类号	G01Q30/02;G01N25/72;G01Q30/10;G01R31/308	主分类号	G01Q30/02
代理机构		代理人
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