SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE,申请号JP19880020307-传众专利搜索

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发明名称	SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	JPH01197951(A)	申请公布日期	1989.08.09
申请号	JP19880020307	申请日期	1988.01.30
申请人	TOSHIBA CORP	发明人	OTA KENJI;OGAWA YOJI;WADA KANJI
分类号	H01J37/141	主分类号	H01J37/141
代理机构		代理人
主权项
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