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发明名称 MICROWAVE PREVENTION STRUCTURE OF MEASUREMENT PROBE
摘要
申请公布号 KR890004875(Y1) 申请公布日期 1989.07.25
申请号 KR19860015919U 申请日期 1986.10.18
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. 发明人 LEE SANG-DOK
分类号 H05B6/76;(IPC1-7):H05B6/76 主分类号 H05B6/76
代理机构 代理人
主权项
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