发明名称 | 测量低能β射线用的自动效率示踪法 | ||
摘要 | 本发明为测量低能β辐射体之辐射活性的方法,从标准样品的计数效率和被测样品的计数率间之关系导出回归式,经过种种校正,使以往之自动效率跟踪法难于测量低能β辐射体活性的缺点获得解决,达到可能测量的新方法。 | ||
申请公布号 | CN1034067A | 申请公布日期 | 1989.07.19 |
申请号 | CN88108422.0 | 申请日期 | 1988.10.12 |
申请人 | 日本科学株式会社 | 发明人 | 石河宽昭 |
分类号 | G01T1/204 | 主分类号 | G01T1/204 |
代理机构 | 中国专利代理有限公司 | 代理人 | 许新根;叶凯东 |
主权项 | 1、一种测量低能β射线用自动效率示踪法,其特征在于,用液体闪烁体测量低能β辐射体时,采用在所用的测量窗范围内,最高计数效率在85%以下的标准样品,在脉冲幅度分析器的上限和下制间,确定几个测量窗,同时测得标准样品在各测量窗的计数效率,并以修正系数,对计数率作修正,而得到修正后的计数效率,再在与测定标准样品相同的测量窗中,同时测得被测样品在各测量窗的计数值,并用修正系数加以修正,而得到修正后的计数值,用上述修正后的计数效率和修正后的计数值,决定回归式,再由另一个标准样品所得的修正系数,对在上述回归式的计数效率为100%时的计数值加以修正,所得的修正值即为被测试样的辐射活度。 | ||
地址 | 日本东京都 |