发明名称 测量低能β射线用的自动效率示踪法
摘要 本发明为测量低能β辐射体之辐射活性的方法,从标准样品的计数效率和被测样品的计数率间之关系导出回归式,经过种种校正,使以往之自动效率跟踪法难于测量低能β辐射体活性的缺点获得解决,达到可能测量的新方法。
申请公布号 CN1034067A 申请公布日期 1989.07.19
申请号 CN88108422.0 申请日期 1988.10.12
申请人 日本科学株式会社 发明人 石河宽昭
分类号 G01T1/204 主分类号 G01T1/204
代理机构 中国专利代理有限公司 代理人 许新根;叶凯东
主权项 1、一种测量低能β射线用自动效率示踪法,其特征在于,用液体闪烁体测量低能β辐射体时,采用在所用的测量窗范围内,最高计数效率在85%以下的标准样品,在脉冲幅度分析器的上限和下制间,确定几个测量窗,同时测得标准样品在各测量窗的计数效率,并以修正系数,对计数率作修正,而得到修正后的计数效率,再在与测定标准样品相同的测量窗中,同时测得被测样品在各测量窗的计数值,并用修正系数加以修正,而得到修正后的计数值,用上述修正后的计数效率和修正后的计数值,决定回归式,再由另一个标准样品所得的修正系数,对在上述回归式的计数效率为100%时的计数值加以修正,所得的修正值即为被测试样的辐射活度。
地址 日本东京都