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发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MEASURING LATCH-UP DIELECTRIC STRENGTH OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH01180472(A) 申请公布日期 1989.07.18
申请号 JP19880196741 申请日期 1988.08.05
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 HATA TSUTOMU;NISHIUCHI TAIJI
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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