发明名称 POINT PROJECTION PHOTOELECTRON MICROSCOPE WITH HOLLOW NEEDLE.
摘要 Dans un microscope photoélectronique à projection ponctuelle, un spécimen est renfermé dans un photoconducteur (N) sensible à l'effet photoélectrique. Le spécimen est placé sur un socle dans une chambre à vide (C), puis bombardé avec des rayonnements, que ce soit de la lumière, des rayonnements ultraviolets ou des rayons X doux (S). Le photoconducteur est placé dans une chambre à vide et fortement chargé avec un potentiel négatif. La chambre à vide comprend une surface sensible au flux d'électrons (P) pour former une image (I). Cette surface est un écran luminescent ou un tube intensificateur d'image susceptible d'être déclenché afin d'imager ou non des électrons incidents, ou une anode segmentée collectrice d'électrons du type utilisée en imagerie électronique. En fonctionnement, un faisceau aligné de rayonnements, allant de la lumière aux rayons X doux, est projeté à travers le spécimen placé dans le photoconducteur. Une image du spécimen est formé sur le photoconducteur par la lumière ou les rayons X qui frappent le photoconducteur, celui-ci produisant des électrons par effet photoélectrique. Le électrons migrent au-delà du photoconducteur, jusqu'au champ électrique situé à l'extrémité du photoconducteur. Le champ électrique repousse les électrons radialement vers la surface d'imagerie, typiquement le tube intensificateur d'image.
申请公布号 EP0322419(A1) 申请公布日期 1989.07.05
申请号 EP19870906273 申请日期 1987.09.09
申请人 HIRSCH, GREGORY 发明人 HIRSCH, GREGORY
分类号 H01J37/252;G01N23/227;H01J37/285 主分类号 H01J37/252
代理机构 代理人
主权项
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