发明名称 INTERPRETER PROCESSING SYSTEM FOR IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH01161172(A) 申请公布日期 1989.06.23
申请号 JP19870317597 申请日期 1987.12.17
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 TANAKA SHINJI
分类号 G01R31/317;G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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