| 摘要 |
<P>Selon le procédé de l'invention on éclaire la pièce 12 à mesurer au moyen d'un faisceau laser focalisé qui se réfléchit sur la surface de la pièce, on détecte le rayon réfléchi au moyen d'une barette de diodes 27 dont les index successifs id m j de la diode Dj ayant détecté les pics d'amplitude successifs, pour chaque pas de déplacement en X de la pièce, sont enregistrés par un calculateur 35 et on reconstitue le contour géométrique de la pièce par rotations de celle-ci devant le faisceau incident.</P><P>Application au contrôle sans contact de pièces fragiles ou à contours complexes.</P>
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