TEST MODE CIRCUIT,申请号JP19870311089-传众专利搜索

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发明名称	TEST MODE CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH01152897(A)	申请公布日期	1989.06.15
申请号	JP19870311089	申请日期	1987.12.10
申请人	MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD	发明人	TAKAHASHI YOSHIO;FUKUTANI JUNICHI
分类号	H04Q9/14;H04Q9/00	主分类号	H04Q9/14
代理机构		代理人
主权项
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